隨著(zhù)技術(shù)的發(fā)展，光學(xué)薄膜的光學(xué)性能也在廠(chǎng)家的不斷提高，市場(chǎng)需要更高等的產(chǎn)品，其中在液晶面板吃起的成產(chǎn)中，也液晶貼的的一層膜的配向角度的優(yōu)良很大程度上影響生產(chǎn)出來(lái)的液晶面板的顯示效果的好壞。關(guān)于如何了解這一層配向膜（PI）的配向角度，研發(fā)人員一直沒(méi)有合適設備來(lái)測量， 近期，日本的phl廠(chǎng)家帶來(lái)這款通過(guò)測量雙折射的方法來(lái)檢驗配向角度的設備。

測量示例：

通過(guò)WPA-200的檢驗，可以知道產(chǎn)品的雙折射大小和方向，內應力的分布情況，在經(jīng)過(guò)分析得到數據